EMC技術解説を更新しました。

27. ESD試験時の2次放電発生の予見・・・simで確認。これが不具合原因！

当ホームページのコンサルブログの記事、“サージ関連試験での不具合対策は試験パルス印加による2次放電発生も勘案して”や“ESD試験（IEC61000-4-2）対策に関する技術資料”のテキストPart-Iの中で2次的放電に関する解説をしておりますが、ESDガンの印加による機器内での2次放電発生の可能性について電磁界Sim（CST Studio Suite LE）を使って検討してみました。