EMC技術解説を更新しました。<ESD試験の不具合原因> EMC技術解説を更新しました。 “33. ESD試験で被試験機に不具合発生・・・原因は過大なdV/dt ➡IC故障“ ESDガンによる被試験機に対する気中放電や、ESDガンでの接触放電でも被試験機内で2次的な火花放電を生じた場合は、その火花放電により試験機内の回路基板のGND電極と各ラインとの間でより大きいdV/dtをもつパルス状のノイズが生じているのではないかと考えております。